Silicon Carbide Dummy Wafer fra Semicera er laget for å møte kravene til dagens høypresisjons halvlederindustri. Dette er kjent for sin eksepsjonelle holdbarhet, høye termiske stabilitet og overlegne renhetoblater avgjørende for testing, kalibrering og kvalitetssikring i halvlederfabrikasjon. Semiceras silisiumkarbid dummy wafer gir uovertruffen slitestyrke, og sikrer at den tåler streng bruk uten nedbrytning, noe som gjør den ideell for både FoU- og produksjonsmiljøer.
Silicon Carbide Dummy Wafer er designet for å støtte ulike applikasjoner og brukes ofte i prosesser som involvererSi Wafer, SiC substrat, SOI Wafer, SiN-substrat, ogEpi-Waferteknologier. Dens enestående termiske ledningsevne og strukturelle integritet gjør den til et utmerket valg for høytemperaturbehandling og håndtering, som er vanlig ved produksjon av avanserte elektroniske komponenter og enheter. I tillegg minimerer waferens høye renhet forurensningsrisikoen, og bevarer kvaliteten på sensitive halvledermaterialer.
I halvlederindustrien fungerer Silicon Carbide Dummy Wafer som en pålitelig referansewafer for testing av nye materialer, inkludert Gallium Oxide Ga2O3 og AlN Wafer. Disse nye materialene krever nøye analyse og testing for å sikre deres stabilitet og ytelse under ulike forhold. Ved å bruke Semiceras dummy wafer får produsentene en stabil plattform som opprettholder ytelseskonsistens, og hjelper til med utviklingen av neste generasjons materialer for høyeffekts-, RF- og høyfrekvente applikasjoner.
Applikasjoner på tvers av bransjer
• Fremstilling av halvledere
SiC Dummy Wafers er essensielle i halvlederproduksjon, spesielt i de innledende fasene av produksjonen. De fungerer som en beskyttende barriere, beskytter silisiumskiver mot potensiell skade og sikrer prosessnøyaktighet.
•Kvalitetssikring og testing
I kvalitetssikringen er SiC Dummy Wafers avgjørende for leveringskontroller og evaluering av prosessskjemaer. De muliggjør nøyaktige målinger av parametere som filmtykkelse, trykkmotstand og refleksjonsindeks, og bidrar til validering av produksjonsprosesser.
•Litografi og mønsterverifisering
I litografi fungerer disse skivene som en målestokk for måling av mønsterstørrelse og kontroll av feil. Deres presisjon og pålitelighet hjelper til med å oppnå ønsket geometrisk nøyaktighet, avgjørende for funksjonaliteten av halvlederenheter.
•Forskning og utvikling
I FoU-miljøer støtter fleksibiliteten og holdbarheten til SiC Dummy Wafers omfattende eksperimentering. Deres evne til å tåle strenge testforhold gjør dem uvurderlige for utvikling av nye halvlederteknologier.
