4″6″ 8″ N-type SiC Ingot

Kort beskrivelse:

Semiceras 4″, 6″ og 8″ N-type SiC Ingots er hjørnesteinen for høyeffekts og høyfrekvente halvlederenheter. Disse blokkene tilbyr overlegne elektriske egenskaper og termisk ledningsevne, og er laget for å støtte produksjonen av pålitelige og effektive elektroniske komponenter. Stol på Semicera for uovertruffen kvalitet og ytelse.


Produktdetaljer

Produktetiketter

Semiceras 4", 6", og 8" N-type SiC Ingots representerer et gjennombrudd innen halvledermaterialer, designet for å møte de økende kravene til moderne elektroniske og kraftsystemer. Disse ingots gir et robust og stabilt grunnlag for ulike halvlederapplikasjoner, og sikrer optimal ytelse og lang levetid.

Våre N-type SiC ingots produseres ved hjelp av avanserte produksjonsprosesser som forbedrer deres elektriske ledningsevne og termiske stabilitet. Dette gjør dem ideelle for høyeffekts- og høyfrekvente applikasjoner, for eksempel invertere, transistorer og andre kraftelektroniske enheter der effektivitet og pålitelighet er avgjørende.

Den nøyaktige dopingen av disse blokkene sikrer at de tilbyr konsistent og repeterbar ytelse. Denne konsistensen er avgjørende for utviklere og produsenter som flytter grensene for teknologi på felt som romfart, bilindustri og telekommunikasjon. Semiceras SiC ingots muliggjør produksjon av enheter som fungerer effektivt under ekstreme forhold.

Å velge Semiceras N-type SiC Ingots betyr å integrere materialer som kan håndtere høye temperaturer og høy elektrisk belastning med letthet. Disse ingots er spesielt egnet for å lage komponenter som krever utmerket termisk styring og høyfrekvent drift, for eksempel RF-forsterkere og strømmoduler.

Ved å velge Semiceras 4", 6", og 8" N-type SiC Ingots, investerer du i et produkt som kombinerer eksepsjonelle materialegenskaper med presisjonen og påliteligheten som kreves av banebrytende halvlederteknologier. Semicera fortsetter å lede bransjen med tilbyr innovative løsninger som driver fremskritt innen produksjon av elektroniske enheter.

Varer

Produksjon

Forske

Dummy

Krystallparametere

Polytype

4H

Overflateorienteringsfeil

<11-20 >4±0,15°

Elektriske parametere

Dopant

n-type nitrogen

Resistivitet

0,015-0,025 ohm·cm

Mekaniske parametere

Diameter

150,0±0,2 mm

Tykkelse

350±25 μm

Primær flat orientering

[1-100]±5°

Primær flat lengde

47,5±1,5 mm

Sekundærleilighet

Ingen

TTV

≤5 μm

≤10 μm

≤15 μm

LTV

≤3 μm (5mm*5mm)

≤5 μm (5mm*5mm)

≤10 μm (5mm*5mm)

Bue

-15μm ~ 15μm

-35μm ~ 35μm

-45μm ~ 45μm

Warp

≤35 μm

≤45 μm

≤55 μm

Forside (Si-face) ruhet (AFM)

Ra≤0,2nm (5μm*5μm)

Struktur

Mikrorørtetthet

<1 ea/cm2

<10 ea/cm2

<15 e/cm2

Metallurenheter

≤5E10atomer/cm2

NA

BPD

≤1500 ea/cm2

≤3000 ea/cm2

NA

TSD

≤500 ea/cm2

≤1000 ea/cm2

NA

Frontkvalitet

Front

Si

Overflatefinish

Si-face CMP

Partikler

≤60ea/wafer (størrelse≥0,3μm)

NA

Riper

≤5ea/mm. Kumulativ lengde ≤Diameter

Kumulativ lengde≤2*Diameter

NA

Appelsinskall/groper/flekker/striper/ sprekker/forurensning

Ingen

NA

Kantspon/innrykk/brudd/hex-plater

Ingen

Polytype områder

Ingen

Akkumulert areal≤20 %

Akkumulert areal≤30 %

Lasermerking foran

Ingen

Ryggkvalitet

Avslutning bak

C-ansikt CMP

Riper

≤5ea/mm, Kumulativ lengde≤2*Diameter

NA

Ryggdefekter (kantskår/innrykk)

Ingen

Ruhet i ryggen

Ra≤0,2nm (5μm*5μm)

Lasermerking bak

1 mm (fra øvre kant)

Kant

Kant

Chamfer

Emballasje

Emballasje

Epi-klar med vakuumemballasje

Multi-wafer kassettemballasje

*Merknader: "NA" betyr ingen forespørsel. Elementer som ikke er nevnt kan referere til SEMI-STD.

tech_1_2_size
SiC-skiver

  • Tidligere:
  • Neste: